雷绍充、梁峰、张鸿、张国和编著的《SOC测试》介绍SOC测试方法，包括数字、存储器以及模拟与混合电路的测试方法。由于可测性设计(design-for-testable，DFT)可有效地减少测试成本和提高测试质量，各种电路的DFT方法也是本书要介绍的重要内容。
雷绍充、梁峰、张鸿、张国和编著的《SOC测试》系统化介绍SOC测试方法与结构，主要内容包括SOC测试的原理和标准，扫描测试与内建自测试，软件自测试，测试压缩，低功耗测试，延迟测试，模拟与混合电路测试，RF电路测试，SOC与NOC测试。
《SOC测试》既可作为高等院校电子与信息、计算机科学与技术和电气工程类高年级学生和研究生的专业课教材，也可作为从事集成电路设计、制造、测试、应用、EDA和ATE专业人员的参考用书。