本书是一本系统论述单板级JTAG测试技术的专著。内容包括: 基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串心测试矢量 ; 内建自测试和仿真测试 ; 基于IEEE1687标准的集成电路测试技术发展趋势。