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书名 嵌入式系统中的辐射效应/国际电气工程先进技术译丛
分类
作者 (法)拉乌尔·委拉兹克//帕斯卡·弗埃雷特//(巴西)里卡多·赖斯
出版社 机械工业出版社
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简介
内容推荐
本书由法国TIMA实验室的Raoul Velazco、法国波尔多第一大学的Pascal Fouillat和巴西南里奥格兰德联邦大学的Ricardo Reis共同编著, 从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的辐射效应, 主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。
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更新时间:2025/11/23 7:21:26