本书由法国TIMA实验室的Raoul Velazco、法国波尔多第一大学的Pascal Fouillat和巴西南里奥格兰德联邦大学的Ricardo Reis共同编著, 从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的辐射效应, 主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。